MAXXI5   X射線鍍層測厚儀

產(chǎn)地：英國   品牌：牛津儀器    型號：MAXXI5

儀器原理及測量方法介紹：

● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征，滿足標(biāo)準(zhǔn)ISO 3497-2000或GB T16921-2005金

    屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法

• 可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
• 可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
• 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外，適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。 

● 2.測量原理   無錫供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測厚儀

   物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進(jìn)行定性和定量分析。

● 3.鍍層厚度的測量方法   無錫供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測厚儀

    鍍層厚度的測量可分為標(biāo)準(zhǔn)曲線法和FP法(基本參數(shù)法)2種。標(biāo)準(zhǔn)曲線法是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X射線的能量和強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量示知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

FP法即是Fundamental Parameter Method的簡稱。即基本參數(shù)法。

1）標(biāo)準(zhǔn)曲線法：如下圖所示，經(jīng)X射線照射后，鍍層和底材都會各自產(chǎn)生熒光X射線，我們必需對這2種熒光X射線能夠辨別，方能進(jìn)行鍍層厚度的測量。也就說，鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的，這是測量鍍層厚度的先決條件。 

   鍍層厚度測量時，可采用兩種不同方法。

    一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度，稱為激發(fā)法。

   一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度，稱為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來區(qū)分使用。

   鍍層厚度測量時，測量已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強度之間的關(guān)系，并做出標(biāo)準(zhǔn)曲線。然后再測量未知樣品的熒光X射線強度，得到鍍層厚度。但是需注意的是，熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強度來求得單位面積的元素附著量，再除以元素的密度來得出其厚度。所以，對于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品，需要進(jìn)行修正。

2）FP法 - 基本參數(shù)方法

   采用FP法，只需要比標(biāo)準(zhǔn)曲線法更少的標(biāo)準(zhǔn)樣品，就能簡單迅速地得到測量的結(jié)果。如果樣品均勻，所使用分析線的強度就可用樣品的成分和基本參數(shù)的函數(shù)來表示。換句話說，從任意組成的樣品所產(chǎn)生的分析線強度，都可以從這基本參數(shù)來計算出，所以我們稱這種方法為基本參數(shù)法。

   FP法的zui大特征是可對塊體樣品進(jìn)行成分分析到薄膜樣品的成分與厚度同時進(jìn)行分析與測量。MAXXI 5系列的儀器是對于塊體樣品可采用塊體FP法，對于薄膜樣品可采用薄膜FP分析法。

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